KLA致力于帮助汽车行业达到严格的电子产品质量标准。为此，我们推出了四种新产品，以确保汽车电子产品驱动芯片的高产量、可靠性和性能。

汽车电气化、自动驾驶和连接性方面的创新要求集成更多由半导体芯片供电的电子设备。今天的汽车包括数以千计的半导体芯片，它们充当汽车的眼睛、耳朵和大脑——感知周围环境，做出决策和控制行动。由于这些芯片的可靠性非常关键，芯片制造商必须在芯片集成到车辆中之前找到方法，发现并缓解晶圆厂中潜在的芯片故障。

KLA的过程控制系统帮助芯片制造商满足汽车行业严格的质量标准。三个新的检查系统为更大的设计节点设备在芯片制造的所有阶段提供缺陷发现、监控和控制。此外，创新的自动化在线筛选解决方案有助于工厂确保汽车芯片符合严格的质量标准。

这个冲浪扫描^®SP A2和SP A3无图案晶圆检查系统通过检测影响芯片产量和可靠性的关键缺陷和表面质量问题，支持工艺和工艺工具鉴定和监控。

对研发和生产斜坡具有高灵敏度C205宽带等离子体光学图形晶圆检测系统发现并准确定位关键缺陷，产生可操作的数据，用于提高芯片可靠性和成品率。

在大批量生产过程中8935高生产率图形化晶圆检测系统通过高晶圆采样捕获各种关键缺陷，支持识别与产量或可靠性相关的偏移。

这个I-PAT^®（在线缺陷零件平均测试）解决方案在KLA检查和数据分析系统上运行，帮助汽车芯片制造商识别异常缺陷群体，以便在风险芯片进入供应链之前将其从工厂中移除。

更多信息可在我们的新闻稿.

新套件扩展了KLA全面的检测、计量、数据分析和过程系统组合，支持汽车电子生态系统的多个部分。查看KLA系统如何支持汽车计划，如持续改进计划、零缺陷目标等汽车解决方案页面.

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