IC부품검사및계측
IC부품검사및계측
解放军의종합적부품검사및계측시스템은다양한크기와상호연결방식첨단패키지와기존패키지의주요특성들을확인합니다。당사의시스템은다양한결함유형에대한높은감도를제공할뿐만아니라,정확하고반복가능한3 d계측측정도를제공하며,이두가지특성은수율을개선하는동시에부품을효율적으로선별함으로써결함을빠르게제거하기위하여필요한데이터를패키징제조업체들에게제공합니다。다양한패키지종류를취급할수있는유연한시스템을통해엔지니어들은역동적인제조환경에서전체적인운영효율을더욱향상시킬수있습니다。
国际安全和发展理事会™T3 / T7
패키징된IC검사및계측시스템
国际安全和发展理事会™T3 / T7시리즈는托盘(T3)또는磁带(T7)출력의집적회로패키지구성부품에대한완전자동광학검사를위한다양한옵션을제공합니다。国际安全和发展理事会T3 / T7시리즈는작은크기의결함에대한높은감도와정확하고반복가능한3 d계측을모두제공하여최종패키지품질에영향을미치는문제들을더정확하게검출할수있습니다。가장정확한부품선별과정을위하여这个理事会T3 / T7시리즈는인공지능(AI)시스템과딥러닝알고리즘을활용하여결함의종류를빠르고스마트하게선별할수있습니다。国际安全和发展理事会T3과T7검사기는공통의플랫폼을공유하여변화하는환경에서최적의장비사용을위해트레이에서테잎출력으로재구성할수있습니다。
응용분야
모든패키지유형에대한부품출고품질관리(OQC)(씬쿼드플랫패키지(TQFP)쿼드플랫패키지(QFP), BGA,칩규모패키지(CSP),웨이퍼수준페키지巨头()、QFN,범프칩캐리어(BCC)랜드격자배열(LGA)등)
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문의国际安全和发展理事会™T890
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문의国际安全和发展理事会™T890
패키징된IC검사및계측시스템
国际安全和发展理事会™T890부품검사기는패키징된집적회로(IC)에대해완전히자동화된고성능광학검사역량을제공합니다。고감도2 d및3 d측정값을활용하여다양한소자유형및치수의최종패키지품질을파악합니다。国际安全和发展理事会T890은4개의독립된검사스테이션의병렬운영을통해높은처리량과비용효율적인부품검사를달성합니다。
응용분야
모든패키지유형에대한부품출고품질관리(OQC)(씬쿼드플랫패키지(TQFP)쿼드플랫패키지(QFP), BGA,칩규모패키지(CSP),웨이퍼수준페키지巨头()、QFN,범프칩캐리어(BCC)랜드격자배열(LGA)등)
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문의国际安全和发展理事会™MV996L™
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문의国际安全和发展理事会™MV996L™
패키징된IC검사및계측시스템
MV996L™부품검사기는트레이로출력하는패키징된집적회로(IC)부픔에대한완전히자동화된광학검사를제공합니다。MV996L시스템은최종패키지품질문제를정확하게검출하는데필요한2 d및3 d측정민감도를보유한온더플라이(传递)검사를제공합니다。다중행픽업을통해양산에필요한처리량에도달하며단순한전환공정으로패키지를변경하여다양한패키지치수및유형의품질관리에대한효율적인솔루션을제공합니다。
응용분야
볼격자배열(BGA)쿼드플랫패키지(QFP)칩규모패키지(CSP),얇고작은아웃라인패키지(TSOP)쿼드플랫노리드패키지(QFN)및맞춤패키지를위한부품출고품질관리(OQC)
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문의国际安全和发展理事会™MV925L™
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문의国际安全和发展理事会™MV925L™
패키징된IC검사및계측시스템
MV925L™부품검사기는듀얼테이프또는트레이로출력하는패키징된집적회로(IC)부품에대한완전히자동화된광학검사를제공합니다。MV925L시스템은화하는생산환경에서낮은소유비용으로유연한셋업을가능토록하는트레이투트레이또는단일행픽업투테이프에대한다중행온더플라이(传递)검사를진행합니다。2 d및3 d측정민감도를보유한MV925L검사기는최종패키지품질문제를정확하게검출합니다。단순한전환공정으로패키지치수및유형의품질관리에대한효율적인솔루션을제공합니다。
응용분야
볼격자배열(BGA)쿼드플랫패키지(QFP)칩규모패키지(CSP),얇고작은아웃라인패키지(TSOP)쿼드플랫노리드패키지(QFN)및맞춤패키지를위한부품출고품질관리(OQC)
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문의国际安全和发展理事会™MV998L™
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문의国际安全和发展理事会™MV998L™
QA용패키징된IC검사및계측시스템
MV998L™부품검사기는트레이로출력하는패키징된집적회로(IC)부품에대한품질보증(QA)테스트를위한휴대용광학검사를제공합니다。모바일솔루션에주력하는MV998L시스템은변화하는제조환경에서볼,패드와리드에대한품질문제검출력을개선하기위한2 d및3 d측정민감도를제공합니다。표준패키지유형간에전환하기위해서는제로패키지전환이필요하며이를통해MV998L검사기는유연성을유지하고QA공정중에시간을절약할수있습니다。
Klarity®
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자동화결함및수율데이터분석
Klarity®缺陷자동화결함분석및데이터관리시스템은시스템의역할을담당합니다。수율학습주기를가속화시킵니다。Klarity缺陷을위한Klarity®SSA(공간시그니처분석)분석모듈은공정문제를나타내는결함시그니처를자동적으로검출및분류합니다。Klarity®ACE XP첨단수율분석시스템은外事局내그리고外事局에걸쳐수율가속화를위해수율학습을검출,유지및공유하도록지원합니다。Klarity시스템은직관적인결정흐름분석을활용하여엔지니어들이很多분류,리뷰샘플링,결함원인분석,SPC설정및관리와공정사고알림등의애플리케이션을지원하는맞춤형분석을손쉽게수립할수있도록합니다。Klarity缺陷,Klarity SSA및Klarity ACE XP는자동적으로결함검사,분류및리뷰데이터를관련근인및수율분석정보로전환하는外事局전체에걸친수율솔루션을수립합니다。Klarity데이터는IC,패키징,컴파운드세미및HDD제조업체가신속하게시정조치를취하여수율을가속화하고시장출시를앞당길수있도록지원합니다。