표면分析器
표면分析器
解放军의스타일러스및광학分析器는엔지니어링및연구커뮤니티의니즈를충족시키기위해전체표면계측역량범위를제공합니다。分析器는스텝높이,텍스처및응력분석으로시작하여측정을다음수준으로가지고갑니다。
Alpha-Step®d - 500스타일러스分析器
Alpha-Step®d - 500스타일러스分析器
Alpha-Step d - 500스타일러스分析器는불과몇나노미터부터1200µm까지의2 d스텝높이를측정할수있습니다。또한研发및생산환경을위한조도,보우및응력의2 d측정을지원합니다。
제품세부사항Alpha-Step®d - 600스타일러스分析器
Alpha-Step®d - 600스타일러스分析器
Alpha-Step d - 600스타일러스分析器는불과몇나노미터부터1200µm까지의2 d스텝높이를측정할수있습니다。또한研发및생산환경을위한조도,2 d +보우및응력의2 d및3 d측정을지원합니다。
제품세부사항P-7스타일러스分析器
P-7스타일러스分析器
P-7은시장을선도하는P-17벤치탑스타일러스프로파일링시스템의성공을기반으로구축되었습니다。이는벤치탑스타일러스分析器를위한우수한가격대비기능비율을제공하는플랫폼내P-17기술의뛰어난측정성능을포함합니다。P-7은생산및研发환경내에서불과몇나노미터부터1밀리미터까지의스텝에대한스텝높이측정역량을제공합니다。
제품세부사항P-17스타일러스分析器
P-17스타일러스分析器
P-17은40년의표면계측경험을기반으로구축된산업을선도하는벤치탑스타일러스分析器입니다。P-17은研发및생산환경에서불과몇나노미터부터밀리미터까지의스텝높이를측정할수있습니다。
제품세부사항p - 170스타일러스分析器
p - 170스타일러스分析器
p - 170프로파일계측기는P-17의산업을선도하는벤치탑시스템측정성능을合- 260의생산에서입증된핸들러역량과접목시키는카세트-투카세트스타일러스分析器입니다。이조합은반도체,컴파운드반도체및관련산업에서핸들러기반시스템을위한우수한가격대비성능비율을제공합니다。
제품세부사항合®-260年스타일러스分析器
合®-260年스타일러스分析器
合®-260年은고해상도카세트-투카세트分析器입니다。合는자동화웨이퍼처리역량을통해생산에서입증된성능을제공하여반도체,컴파운드반도체,고조도,데이터스토리지및관련산업을지원합니다。
제품세부사항Zeta-20광학分析器
Zeta-20광학分析器
Zeta-20벤치탑광학分析器는비접촉3 d표면형상측정시스템입니다。이시스템은특허ZDot™기술및멀티모드광학으로가동되며이를통해불과나노미터에서밀리미터의스텝높이,투명및불투명,낮은수준에서높은수준에서의반사도매끄러운및거친텍스처및다양한샘플측정을가능하게합니다。
제품세부사항ζ- 300광학分析器
ζ- 300광학分析器
ζ- 300광학分析器는비접촉3 d표면형상측정시스템입니다。해당시스템은대규모샘플을처리하기위한통합제진옵션및구성유연성을접목시킵니다。이시스템은특허ZDot™기술및멀티모드광학으로가동되며이를통해불과나노미터에서밀리미터의스텝높이,투명및불투명,낮은수준에서높은수준에서의반사도,매끄러운및거친텍스처및다양한샘플측정을가능하게합니다。
제품세부사항ζ- 388광학分析器
ζ- 388광학分析器
ζ- 388벤치탑광학分析器는비접촉3 d표면형상측정시스템입니다。이시스템은특허ZDot™기술및멀티모드광학으로가동되며이를통해불과나노미터에서밀리미터의스텝높이,투명및불투명,낮은수준에서높은수준에서의반사도,매끄러운및거친텍스처및다양한샘플측정을가능하게합니다。
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