即将举行的活动

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2021年10月19日太平洋时间上午10:00(美国和加拿大)

通过玻璃测量表面形貌

太平洋时间2021年10月20日上午09:00(美国和加拿大)

薄板电阻测量的光斑尺寸和横向分辨率

2021年11月9日太平洋时间上午10:00(美国和加拿大)

多接口的Profilm3D

太平洋时间2021年11月18日08:00(美国和加拿大)

使用坎德拉降低通信和传感用GaAs、InP和其他化合物半晶片的缺陷®

太平洋时间2021年12月8日上午09:00(美国和加拿大)

微电子显示涂层的纳米划痕与测试后3D轮廓术

缺陷检测系统

缺陷检查

的烛光®复合半导体和硬盘驱动器的检测系统可以帮助工程师在通信和网络、LED、电力设备、传感、太阳能、光伏和数据存储等应用领域实现显著的产量和工艺改进。

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nanoindenter纳米机械测试人员

纳米压头

KLA Instruments纳米压头组合提供了精确、可靠和可重复的测试,以在广泛的测试条件下表征材料的静态和动态力学性能。

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光学表面光度仪

光学分析器

的Profilm3D®和ζ™️️光学轮廓仪利用干涉仪和ZDot,为三维台阶高度、粗糙度和其他表面形貌测量提供快速、非接触式解决方案测量技术。

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薄层电阻映射器

的Filmetrics®基于超过45年的电阻测量创新和技术专长,薄板电阻测绘仪器已经开发出来。

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触针式轮廓仪

触针轮廓仪

的Alpha-Step®, Tencorp系列,合®触针式轮廓仪可实现高精度、二维和三维表面计量。触针轮廓仪可测量台阶高度、粗糙度、弯曲度和应力,其稳定性和可靠性达到业界领先水平,满足您的研发和生产计量要求。

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薄膜反射计

薄膜反射计

Filmetrics薄膜反射计可在数秒内测量透明薄膜的厚度和折射率,具有行业领先的精度。

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服务

KLA仪器服务集团提供快速、快速和灵活的支持选项的全球网络,以满足您的独特需求,并最大限度地延长您的正常运行时间。

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技术文献

浏览KLA仪器应用工程师和客户的应用说明和技术论文,涵盖KLA仪器产品的各种用例。

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时间轴上的创新

我们的创新历史和深厚的专业知识构建了广泛的测量和检查解决方案组合,满足了每一个需求和环境。看看这一切是如何从Alpha步骤开始的®通过我们最新的产品创新,1977年的产品线。

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