森林里一条长长的大路

提升汽车IC的质量

半导体是当今汽车创新的核心

持续改进计划

持续改进计划(CIP)利用无图案的晶圆缺陷检测来识别导致缺陷的特定制程设备。借助监控CIP的设备,汽车芯片制造厂可以设定客观目标,减少影响可靠性的制程缺陷。

Surfscan®系列

实现零缺陷

通过零缺陷筛选,晶圆厂可以在关键工艺步骤上对所有晶圆中100%的芯片进行监控。这要求检测仪快速而灵敏,同时又能够可靠地识别哪些缺陷很重要。使用这种方法,在晶圆厂中就可以将可能发生故障的芯片从供应链中剔除,而这时的成本最低。高灵敏度检测策略可以与筛选技术配合使用,用以发现关键的良率缺陷,从而加快新工艺表征并进一步减少缺陷。

8 系列

C205

彪马

认证与翻新

玛莉®

高级设计节点变化

机器视觉和人工智能等汽车功能需要先进的IC。为了达到先进设计节点器件的更高良率和质量标准,晶圆厂需要发现所有系统缺陷源,并采用“每一个缺陷都重要“的方法来提高基准良率。

39 xx系列和29日xx系列

“航行者”号®系列

eSL10

eDR7xxx™系列

增强型IC封装和PCB

当今的先进先进装技术依靠创新的演艺技术来提供改进的ic oc器件性能和多功能成。为什么有没有毛的器材在供应链中发球,而且板(PCB)的重要重要质步骤。检测和量系统捕关键词和杂化,以不锈钢,以不锈钢,可口,可关心的问题以及的可关器。

封装制造

Orbotech IC基板和PCB检查

功率器件可靠性

功率器件实现在各种汽车子系统中,要求的质量标准与其他汽车集成电路相同。SiC外延和硅上甘工艺的专用设备以及碳化硅衬底的检测系统可帮助功率器件制造商达到汽车电子要求的缺陷标准。

spt功率器件制造

电力元件工艺控制

认证与翻新

玛莉®

I-Pat(在用英语翻译)是一级新方法,可驾驶车辆芯片芯片减少体元件中间商在减少缺陷件(I-Pat专利正在申请中)

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