Alpha-Step^®d - 500笔分析器

Alpha-Step^®d - 500笔分析器

Alpha-Step d - 500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2 d台阶高度。它还可以在研发和生产环境中支持粗糙度,翘曲度和应力的2 d测量。

产品详细

Alpha-Step^®d - 600笔分析器

Alpha-Step^®d - 600笔分析器

Alpha-Step d - 600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2 d和3 d的台阶高度。它还可以在研发和生产环境中支持粗糙度,翘曲度和应力的2 d和3 d测量。

产品详细

P-7笔分析器

P-7笔分析器

P-7建立在市场领先的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。它保持了P-17技术的卓越测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比比。P-7为几纳米到一毫米的台阶提供高度测量功能,适用于生产和研发环境。

产品详细

P-17笔分析器

P-17笔分析器

P-17是业界领先的台式探针式轮廓仪,是40多年的表面量测经验的结晶。P-17能够测量从几纳米到一毫米的台阶高度,适用于生产和研发环境。

产品详细

p - 170笔分析器

p - 170笔分析器

p - 170是盒对盒探针式轮廓仪,将行业领先的P-17台式系统的测量性能和经过生产验证的合- 260的机械传送臂相结合。这样的组合为机械传送臂系统提供了极高的性价比，并且适用于半导体，化合物半导体和相关行业。

产品详细

合^®-260笔分析器

合^®-260笔分析器

合^®-260是一款高分辨率盒对盒探针式轮廓仪。合的性能经过生产验证,能够进行自动化晶圆装卸,可为半导体,化合物半导体,高亮度,数据存储和相关行业提供服务。

产品详细

Zeta-20光学分析器

Zeta-20光学分析器

Zeta-20台式光学轮廓仪是非接触式3 d表面形貌测量系统。该系统采用ZDot^™专利技术和多模(多模式)光学系统,可以对各种不同的样品进行测量:透明和不透明,由低至高的反射率,由光滑至粗糙的纹理,以及纳米至毫米级别的台阶高度。

产品详细

ζ- 300光学分析器

ζ- 300光学分析器

ζ- 300光学轮廓仪是一种非接触式3 d表面形貌测量系统。该系统采用集成隔离选项和灵活的配置，可处理尺寸更大的样品。ζ- 300采用ZDot^™专利技术和多模(多模式)光学系统,可以对各种不同的样品进行测量:透明和不透明,由低至高的反射率,由光滑至粗糙的纹理,以及纳米至毫米级别的台阶高度。

产品详细

ζ- 388光学分析器

ζ- 388光学分析器

ζ- 388光学轮廓仪是一种非接触式3 d表面形貌测量系统。该系统采用集成隔离选项，以及用于全自动测量的盒带装卸。ζ- 388采用ZDot^™专利技术和多模(多模式)光学系统,可以对各种不同的样品进行测量:透明和不透明,由低至高的反射率,由光滑至粗糙的纹理,以及纳米至毫米级别的台阶高度。

产品详细